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X熒光光譜儀FEDX-M810

FEDX-M810熒光光譜儀結(jié)構緊湊，外形美觀；主要用來分析樣品中的重金屬含量，廣泛用于電子電器、精密五金、兒童玩具、食品、化妝品、土壤等領域。

技術參數(shù):

分析元素范圍：Cl(17)-U(92)

含量分析范圍：1ppm-99.999%

X射線源靶材：Ag靶、W靶、Rh靶（可選）

濾光系統(tǒng)：6種(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等組合)

準直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可選

攝像頭：高清CCD攝像頭

探測器：Si-pin探測器

應用領域