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X熒光光譜儀FEDX-M820
FEDX-M820熒光光譜儀結構緊湊，外形美觀，占用空間小；配置高，性能卓越；主要用來分析金屬合金、冶煉材料、新型材料、地質礦物等樣品。
技術參數:
分析元素范圍：Na(11)-U(92)
含量分析范圍：1ppm-99.9999%
分析樣品類型：顆粒、固體、液體、粉末等
濾光系統：6 種(Cu、Al、Mo、Ti、Fe 等組合)
進口探測器：FAST-SDD 探測器
標準配置：真空系統、樣品自旋系統

應用領域
150 6268 8101