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X熒光光譜儀FEDX-U810
FEDX-U810熒光光譜儀擁有高階配置,具備優秀的精密度和準確度,適合用于礦冶建材類企業中心分析室對原材料的質量管控;
技術參數:
分析元素范圍:Na(11)-U(92)
含量分析范圍:1ppm-99.9999%
分析樣品類型:顆粒、固體、壓片、熔片、粉末等
濾光系統:6 種(Cu、Al、Mo、Ti、Fe 等組合)
進口探測器:FAST-SDD 探測器
標準配置:真空系統、樣品自旋系統
應用領域
地質礦產
金屬冶煉
水泥建材
新材料
玻璃制品
點擊一鍵撥打
150 6268 8101
產品中心
X射線熒光分析儀(XRF)
X射線衍射儀(XRD)
原子發射光譜儀(OES)
原子吸收光譜儀(AAS)
高頻紅外碳硫儀(CS)
等離子體發射光譜儀(ICP)
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